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三維光學(xué)輪廓儀
布魯克三維光學(xué)輪廓儀
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詳解布魯克ContourX系列輪廓儀核心技術(shù) 在表面計(jì)量學(xué)領(lǐng)域,對(duì)物體表面微觀形貌進(jìn)行非接觸、高分辨率的測(cè)量是一項(xiàng)關(guān)鍵需求。
詳解布魯克ContourX系列輪廓儀核心技術(shù) 布魯克ContourX系列三維光學(xué)輪廓儀的測(cè)量能力,源于其核心的白光干涉技術(shù)(WLI)和穩(wěn)健的機(jī)械設(shè)計(jì)。理解這些技術(shù)細(xì)節(jié),有助于用戶更好地發(fā)揮儀器的潛能。
布魯克ContourX輪廓儀專注高效小樣品檢測(cè) 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質(zhì)量檢測(cè)環(huán)節(jié),對(duì)測(cè)量設(shè)備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-100三維光學(xué)輪廓儀正是為滿足此類需求而設(shè)計(jì)。
布魯克ContourX系列輪廓儀平衡性能與靈活性 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質(zhì)量檢測(cè)環(huán)節(jié),對(duì)測(cè)量設(shè)備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學(xué)輪廓儀正是為滿足此類需求而設(shè)計(jì)。
布魯克ContourX 輪廓儀應(yīng)對(duì)大尺寸樣品測(cè)量 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質(zhì)量檢測(cè)環(huán)節(jié),對(duì)測(cè)量設(shè)備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學(xué)輪廓儀正是為滿足此類需求而設(shè)計(jì)。
認(rèn)識(shí)布魯克ContourX系列三維光學(xué)輪廓儀 布魯克公司的ContourX系列三維光學(xué)輪廓儀,涵蓋了ContourX-500, ContourX-200和ContourX-100三種型號(hào),為不同領(lǐng)域的表面三維形貌測(cè)量提供了多樣的選擇。這個(gè)系列的產(chǎn)品基于白光干涉技術(shù)(也稱垂直掃描干涉術(shù)),通過(guò)非接觸的方式,能夠?qū)某饣较喈?dāng)粗糙的表面進(jìn)行三維形貌測(cè)量和量化分析。
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