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三維光學輪廓儀
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具備最高性價比的 三維光學輪廓儀ContourX-100為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。該系統占地面積小，所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的**白光干涉（WLI）創新技術，具有強大的二維/三維高分辨測量能力。
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更新時間：2025-05-22
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