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認識布魯克ContourX系列三維光學輪廓儀布魯克公司的ContourX系列三維光學輪廓儀，涵蓋了ContourX-500, ContourX-200和ContourX-100三種型號，為不同領域的表面三維形貌測量提供了多樣的選擇。這個系列的產(chǎn)品基于白光干涉技術（也稱垂直掃描干涉術），通過非接觸的方式，能夠對從超光滑到相當粗糙的表面進行三維形貌測量和量化分析。
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布魯克公司的ContourX系列三維光學輪廓儀，涵蓋了ContourX-500, ContourX-200和ContourX-100三種型號，為不同領域的表面三維形貌測量提供了多樣的選擇。這個系列的產(chǎn)品基于白光干涉技術（也稱垂直掃描干涉術），通過非接觸的方式，能夠對從超光滑到相當粗糙的表面進行三維形貌測量和量化分析。
該系列儀器均采用穩(wěn)固的橋式結構設計，基座和主要支撐結構通常使用高質(zhì)量的花崗巖或高級合金材料，這種材料的選擇有效減少了環(huán)境振動和溫度變化帶來的測量誤差，確保了儀器的長期穩(wěn)定性和重復性。其核心光學系統(tǒng)經(jīng)過精心設計，提供了清晰的光學成像。
在性能表現(xiàn)上，ContourX系列能夠提供納米級別的垂直分辨率和亞微米級別的橫向分辨率，可以精確重建表面的三維微觀結構。無論是研究表面的臺階高度、粗糙度，還是分析微觀結構的體積和角度，ContourX系列都能提供有價值的數(shù)據(jù)。
三款型號的主要區(qū)別在于其樣品臺的行程范圍和承載能力，以適應不同的應用場景。ContourX-500擁有最大的測量空間，適合測量較大的樣品或需要在大范圍內(nèi)進行多點測量的任務；ContourX-200則在緊湊的設計中提供了適中的測量范圍，兼顧了靈活性和實用性；而ContourX-100以其較小的臺面和相對經(jīng)濟的配置，專注于較小樣品的高效率測量。
簡要參數(shù)對比（示例）：
| 型號 | 臺面行程 (X-Y-Z, mm) | 最大樣品高度 (mm) | 典型物鏡倍數(shù) |
|---|---|---|---|
| ContourX-500 | 100 x 100 x 100 | 150 | 2.5X, 5X, 10X, 20X, 50X |
| ContourX-200 | 200 x 200 x 200 | 200 | 2.5X, 5X, 10X, 20X, 50X |
| ContourX-100 | 100 x 100 x 100 | 100 | 5X, 10X, 20X, 50X |
總而言之，布魯克ContourX系列是一個功能全面、適應性強的表面計量工具，為科研和工業(yè)質(zhì)量控制提供了可靠的支持。
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