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PRODUCTS CNTER基恩士 VK-X3000:微觀世界的探索利器 VK-X3000的用途因此十分廣泛。它可以用于測量金屬件的加工粗糙度,檢查玻璃表面的微小劃痕,評估高分子材料的磨損情況,分析涂層或鍍層的厚度與均勻性,甚至觀察生物材料的表面結構。這種對多材料的適應性,使其成為跨行業研發和品質管理中一種有用的工具。
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基恩士VK?X3000:參數表與型號對比 VK-X3000的用途因此十分廣泛。它可以用于測量金屬件的加工粗糙度,檢查玻璃表面的微小劃痕,評估高分子材料的磨損情況,分析涂層或鍍層的厚度與均勻性,甚至觀察生物材料的表面結構。這種對多材料的適應性,使其成為跨行業研發和品質管理中一種有用的工具。
基恩士VK?X3000:硬件構成與材料選用 基恩士 VK?X3000 的硬件設計注重穩定性與長壽命,主要材料與部件如下:
基恩士VK?X3000 的三種掃描原理與優勢 基恩士 VK?X3000 通過激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化三套掃描技術,為不同材料提供適合的測量方案。
基恩士 VK?X3000 激光共聚焦顯微鏡概覽 基恩士 VK?X3000 是面向材料形貌與尺寸測量的激光共聚焦顯微系統。該儀器采用激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化三種掃描原理,可根據樣品的材質、形狀和測量范圍靈活切換,實現 42?28800 倍的放大范圍,無需手動對焦。