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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar 三維共聚焦白光干涉輪廓儀概覽? Sensofar LIN系列是面向工業(yè)與實(shí)驗(yàn)室環(huán)境設(shè)計(jì)的經(jīng)濟(jì)型三維光學(xué)輪廓儀。該系列儀器將共聚焦成像和白光垂直掃描干涉(VSI)兩種技術(shù)集成于一體,提供了在納米至毫米量程范圍內(nèi)進(jìn)行非接觸式三維形貌測量的解決方案。其設(shè)計(jì)注重操作的便捷性和測量的穩(wěn)定性,適用于質(zhì)量控制、研發(fā)分析等多種場景。
布魯克三維光學(xué)輪廓儀保障長期穩(wěn)定運(yùn)行 為延長設(shè)備使用壽命,布魯克提供全生命周期服務(wù)方案,涵蓋日常清潔、定期校準(zhǔn)與軟件更新。
布魯克三維光學(xué)輪廓儀從設(shè)備啟動(dòng)到數(shù)據(jù)分析 ContourX-500的操作流程兼顧效率與準(zhǔn)確性,通過標(biāo)準(zhǔn)化步驟與智能化輔助功能,降低用戶學(xué)習(xí)成本。
布魯克三維光學(xué)輪廓儀半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用 半導(dǎo)體制造對形貌控制的嚴(yán)苛要求,使ContourX-500成為晶圓廠與封裝測試企業(yè)的關(guān)鍵設(shè)備。其非接觸式測量與納米級(jí)分辨率,可覆蓋前道制程與后道封裝的多樣化需求。
布魯克三維輪廓儀從硬件創(chuàng)新到軟件協(xié)同 ContourX-500的自動(dòng)化設(shè)計(jì)貫穿硬件與軟件,通過自動(dòng)測頭傾斜、亮度調(diào)節(jié)與樣品臺(tái)聯(lián)動(dòng),實(shí)現(xiàn)“按需測量”的工業(yè)級(jí)效率,同時(shí)降低操作門檻。
布魯克非接觸式三維測量多場景解決方案 ContourX-500作為布魯克推出的臺(tái)式三維光學(xué)輪廓儀,以非接觸式白光干涉技術(shù)為核心,為工業(yè)檢測與實(shí)驗(yàn)室研究提供了靈活的三維形貌測量方案。
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