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PRODUCTS CNTER布魯克非接觸式三維測量多場景解決方案ContourX-500作為布魯克推出的臺式三維光學輪廓儀,以非接觸式白光干涉技術為核心,為工業檢測與實驗室研究提供了靈活的三維形貌測量方案。
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布魯克非接觸式三維測量多場景解決方案
ContourX-500作為布魯克推出的臺式三維光學輪廓儀,以非接觸式白光干涉技術為核心,為工業檢測與實驗室研究提供了靈活的三維形貌測量方案。其核心優勢在于將落地式白光干涉儀的功能集成于緊湊機身,占地面積減少40%,同時保持垂直分辨率0.1nm、橫向分辨率0.35μm的性能指標,可覆蓋從納米級薄膜到毫米級臺階的測量需求。
技術架構與核心性能
設備采用模塊化設計,光源模塊搭載雙色LED照明系統,波長范圍覆蓋可見光至近紅外,通過多波段濾波器適配不同反射率樣品。干涉鏡頭組支持5種物鏡切換(2.5X-50X),工作距離10-45mm,結合自動測頭傾斜功能(±6°),可實現復雜曲面(如渦輪葉片、微透鏡陣列)的無損檢測。樣品臺采用氣動減震設計,承重達8kg,XY軸移動范圍100mm×100mm,配合編碼器反饋系統,定位重復性優于0.1μm。
材料與工藝的可靠性保障
光學部件選用高純度熔融石英玻璃,透光率超91%,熱膨脹系數低至5.6×10??/℃,確保溫度波動下光學路徑穩定。鏡頭組表面鍍氧化硅與氟化鎂復合增透膜,反射率≤0.6%,提升干涉條紋對比度。機械結構方面,底座采用高強度鑄鐵,有效吸收振動;臺面為304不銹鋼精密研磨,平整度誤差≤1.5μm,長期使用不形變。
典型應用場景
在半導體制造中,設備可檢測晶圓表面顆粒污染(0.1μm級)與TSV通孔側壁粗糙度;在汽車行業,用于分析發動機氣門密封面磨損(深度≥9μm區域自動標記);在生物醫學領域,可表征組織工程支架的孔隙率與拓撲結構。某光學鏡片廠商通過設備測量曲面誤差PV值,將加工良率從82%提升至94%。
參數速覽
項目 | 參數 |
---|---|
型號 | ContourX-500 |
垂直分辨率 | 0.1nm |
橫向分辨率 | 0.35μm-5μm(依物鏡而定) |
最大掃描范圍 | 5mm×5mm×5mm |
樣品臺尺寸 | 200mm×200mm |
重量 | 35kg |
電源要求 | 100-240V AC, 50/60Hz |