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Sensofar LIN:入門級三維測量輪廓儀新選? Sensofar經濟型三維共聚焦白光干涉輪廓儀是一款集成了多種優良光學技術的高精度測量設備。其核心功能包括共聚焦、白光干涉和相位差干涉,能夠實現納米級精度的表面形貌測量。設備具備高分辨率、快速掃描和大范圍測量能力,適用于多種材質和結構的表面檢測。
Sensofar 輪廓儀:微型電子元件的檢測利器 在微型電子元件制造領域,如微型傳感器、微型連接器、芯片封裝元件等,其尺寸通常以微米為單位,表面質量與尺寸精度直接決定元件的電氣性能與裝配兼容性。哪怕是幾微米的尺寸偏差或細微劃痕,都可能導致元件無法正常工作或裝配失效。
Sensofar 輪廓儀:精密模具制造質檢保障 在精密模具制造領域,模具的表面質量、尺寸精度與紋理一致性直接決定了成型產品的質量。無論是汽車零部件模具的細微紋路,還是電子元件模具的微小型腔,哪怕微米級的誤差都可能導致產品報廢。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光學輪廓儀 S neox,憑借對微觀結構的精準檢測能力與適配模具檢測場景的特性,成為精密模具制造全流程質量控制的重要工具,為模具設計驗證、
Sensofar S neox:生物醫學研究的觀測助手 在生物醫學領域,從生物組織樣本的微觀結構觀測,到醫療植入體的表面質量檢測,都需要精準且無損的觀測手段。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光學輪廓儀 S neox,憑借非接觸式檢測特性、納米級觀測精度以及對生物樣本的友好適配性,成為生物醫學研究與醫療產品質控的實用工具,為該領域的科研與生產提供可靠支持。
Sensofar S neox:光學元件制造的質控利器 在光學元件制造領域,透鏡、棱鏡、反射鏡等產品的表面質量直接決定了光學系統的成像效果與性能。哪怕是微米級的面型誤差或細微劃痕,都可能導致光線折射、反射異常,影響最終使用體驗。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光學輪廓儀 S neox,憑借對微觀表面的精準捕捉能力與適配光學元件檢測的特性,成為光學元件制造過程中質量控制的關鍵工具,為各類光學元件
Sensofar S neox:半導體行業檢測好幫手 在半導體行業,芯片從設計到生產的每一個環節,都對精度有著要求,微小的表面缺陷或尺寸偏差都可能影響芯片性能。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光學輪廓儀 S neox,憑借精準的檢測能力與適配半導體場景的特性,成為半導體生產過程中質量把控的重要工具,為芯片制造的多個環節提供可靠檢測支持。