Sensofar LIN：入門級三維測量輪廓儀新選

在三維表面形貌測量領域，Sensofar LIN系列白光干涉輪廓儀提供了一種經濟實用的入門選擇。該產品將白光干涉技術（VSI）與共聚焦技術相結合，旨在為尋求從二維測量邁向三維精細測量的用戶提供一個功能齊全、操作簡便的平臺。

產品細節上，LIN系列采用了模塊化設計。其核心是一套集成化的光學引擎，將光源、干涉物鏡、精密掃描系統和攝像頭整合于一體。這種設計有助于保持設備的穩定性和測量的重復性。設備外觀緊湊，能夠較好地融入實驗室或產線環境。

其性能特點在于提供了非接觸、無損的測量方式。白光干涉技術對光滑和輕微粗糙的表面有較好的適應性，能快速獲取表面的三維形貌信息。通過切換物鏡，用戶可以在測量范圍和分辨率之間取得平衡，以滿足不同應用場景的需求。

在材料適用性方面，LIN系列可用于測量多種表面的樣品，包括硅片、玻璃、金屬、塑料以及涂層等。例如，在半導體后段工藝中，可用于測量焊球的高度和共面性；在材料科學中，可用于分析薄膜表面的粗糙度。

以下是LIN系列某型號的示例參數（具體需以數據為準）：

• 技術原理: 白光干涉（VSI）與共聚焦

• 物鏡配置: 可選配多種倍率，如10x, 20x, 50x

• 垂直分辨率: 亞納米級

• 水平分辨率: 可達0.5 μm

• 掃描范圍（Z軸）: 數毫米

• 平臺: 手動或電動平臺可選

使用說明強調用戶友好性。Sensofar的SensoMAP軟件提供了直觀的圖形化界面，引導用戶完成從樣品對焦、參數設置到掃描測量的全過程。軟件內置了豐富的分析工具，可一鍵生成符合國際標準的二維、三維參數報告。

LIN系列的用途廣泛，適用于研發初期的材料表征、生產過程中的質量抽檢以及學術研究中的數據分析，是步入三維微觀測量領域的一個考慮方向。

Sensofar LIN：入門級三維測量輪廓儀新選