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Sensofar三維共聚焦輪廓儀多技術表面測量 Sensofar S neox三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀采用模塊化設計，集成共聚焦、白光干涉、相位差干涉及AI多焦面疊加四種測量模式。
更新時間：2025-10-11
產品型號：S neox
瀏覽量：106
Sensofar三維共聚焦輪廓儀多功能表面分析 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-11產品型號：S neox瀏覽量：155Sensofar三維輪廓儀：共聚焦與干涉測量結合 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-11產品型號：S neox瀏覽量：115
Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-11產品型號：S neox瀏覽量：89
Sensofar三維輪廓儀微觀世界多模態測量利器 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-11產品型號：S neox瀏覽量：118Sensofar：專注工業，高效檢測 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-11產品型號：S neox瀏覽量：105