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Sensofar 白光干涉儀測量技術原理探討? Sensofar S lynx輪廓儀的功能多樣性,建立在共聚焦和白光垂直掃描干涉(VSI)這兩種核心測量技術之上。理解這兩種技術的基本原理和適用條件,有助于用戶在實際應用中選擇合適的模式。
SensofarS lynx2:光學輪廓儀平臺簡介? Sensofar S lynx系列是設計用于工業與研發環境的三維光學輪廓儀平臺。該平臺將共聚焦成像和白光垂直掃描干涉(VSI)等光學測量技術集成于一體,旨在提供一種非接觸式的表面三維形貌測量方案。其設計思路側重于測量的效率和操作的流暢性,適用于生產質量控制、實驗室研發等場合。
Sensofar數據處理:從采集到分析的全流程 Sensofar S neox 的測量價值不僅在于數據采集,更通過完善的軟件系統實現數據處理、分析與追溯的全流程管理。
Sensofar工業應用:生產線的質量檢測助手 Sensofar S neox 憑借高效測量能力與環境適配性,成為工業生產線的實用檢測設備,覆蓋電子、汽車、模具等多個領域。
Sensofar硬件拆解:穩定測量的結構支撐 Sensofar S neox 的硬件系統由光學模塊、機械結構、傳感組件三部分構成,各模塊協同保障測量精度與穩定性。
Sensofar多模式切換:全表面測量的實現路徑 Sensofar S neox 通過共聚焦、干涉、多焦面疊加技術的無縫切換,實現了從亞納米級光滑表面到毫米級粗糙結構的全范圍測量覆蓋。