解密布魯克 ContourX-100：參數與用材細節
布魯克三維光學輪廓儀 ContourX-100 作為一款用于表面形貌測量的設備，在工業檢測、材料研發等領域應用廣泛，其參數配置與用材選擇是保障測量效果和設備穩定性的重要基礎。
核心參數方面，ContourX-100 的測量范圍覆蓋多個關鍵維度。垂直測量范圍能夠應對從微小納米級臺階到一定毫米級高度差的測量需求，適配不同厚度、高度的樣品表面形貌分析；水平測量范圍則可根據樣品尺寸靈活調整，常規配置下能容納多數中小型樣品，同時支持通過擴展組件適配更大規格樣品，滿足多樣化測量場景。分辨率表現上，垂直分辨率可達到較低的納米級別，能捕捉到樣品表面細微的高度變化，水平分辨率也處于行業常用的精細水平，可清晰呈現樣品表面的微觀結構細節。測量速度提供多檔調節模式，快速模式適合初步篩查與大面積樣品掃描，精細模式則用于獲取更詳實的微觀形貌數據，不同模式下的測量時間會依據樣品尺寸和參數設置有所差異，用戶可根據實驗需求靈活選擇。
用材選擇上，ContourX-100 的關鍵部件均經過嚴格篩選。設備的光學鏡頭采用高透光率光學玻璃，經過特殊鍍膜處理，能減少光線反射與折射損耗，確保測量過程中光學信號的穩定傳輸，提升成像質量與測量準確性。樣品臺選用高強度合金材料，表面經過精密加工，平整度較高，可穩定承載樣品，避免因樣品臺變形或不平整導致的測量誤差，同時合金材質具備良好的耐磨性，長期使用后仍能保持穩定性能。設備外殼采用防腐蝕、抗沖擊的金屬材質，表面噴涂耐磨涂層，不僅能抵御實驗室或工業環境中常見的化學試劑侵蝕，還能在意外碰撞時保護內部精密光學組件與電路系統，延長設備使用壽命。
此外，設備的傳動系統部件選用高精度耐磨材料，減少長期運行中的機械磨損，保障樣品臺移動、鏡頭調節等動作的平穩性與準確性；內部電路基板采用耐高溫、抗干擾的材質，確保設備在不同環境溫度下穩定運行，同時降低外界電磁信號對測量數據的干擾。這些參數與用材的合理搭配，為 ContourX-100 的穩定運行和可靠測量性能提供了有力支撐，用戶在選擇和使用時，可結合自身樣品特性與實驗需求，充分發揮設備的參數優勢和優質用材帶來的穩定性能。
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