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PRODUCTS CNTERDSX1000顯微鏡材料科學研究的微觀探針高分子材料實驗室通過DSX1000觀察聚乙烯吹塑薄膜的晶粒生長過程,發現冷卻速率與薄膜透光率的量化關系
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DSX1000顯微鏡材料科學研究的微觀探針
DSX1000為材料表征提供多維分析手段:
表面形貌:結合DIC與景深擴展技術,可測量金屬腐蝕坑深度(0.1μm級);
內部結構:透射照明模塊支持觀察復合材料纖維分布,圖像對比度較傳統方法提升40%;
應力分析:偏光模式配合補償器,可定量測量玻璃內部殘余應力分布。
物鏡采用氟化鎂(MgF?)增透膜,在紫外波段(365nm)仍保持92%透光率;載物臺使用花崗巖基座,熱膨脹系數低至2.3×10??/℃,確保高溫環境下的測量穩定性。
參數項 | 規格 |
---|---|
應力測量范圍 | 0-500MPa(偏光模式) |
纖維取向分析 | 支持0-90°角度定量統計 |
軟件功能 | 晶粒尺寸分析/孔隙率計算/3D粗糙度 |
典型型號 | DSX1000-POL(偏光套件) |
DSX1000-FIB(聚焦離子束聯動) |
高分子材料實驗室通過DSX1000觀察聚乙烯吹塑薄膜的晶粒生長過程,發現冷卻速率與薄膜透光率的量化關系;陶瓷企業利用其3D測量功能分析氧化鋁基板翹曲度,優化燒結工藝參數;地質學家則借助透射模式研究巖石切片中的礦物包裹體,追溯成礦流體演化歷史。
樣品制備:觀察金屬斷口時,使用導電膠粘貼樣品以避免電荷積累;
參數優化:分析各向異性材料時,在軟件中輸入彈性模量數據以校正應力計算;
多模態聯用:與EDS能譜儀聯動,在觀察缺陷的同時獲取元素成分信息;
數據處理:導出ISO 25178標準表面紋理參數,導入MATLAB進行頻譜分析。