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澤攸電鏡ZEM20Ultro:電子制造質檢新助力 在電子制造領域,從半導體芯片封裝到 PCB 板加工,再到微型電子元件組裝,每一個環節的微觀質量都直接影響產品性能與可靠性。傳統檢測手段難以捕捉納米級缺陷,而大型電鏡又受限于空間與操作門檻。ZEM20Ultro 臺式場發射掃描電子顯微鏡(以下簡稱 ZEM20Ultro)憑借高分辨率成像、靈活的樣品適配性與便捷的操作設計,成為電子制造質檢環節的實用工具
澤攸電鏡ZEM20Ultro:臺式電鏡觀測新體驗 在材料表征、生命科學、電子制造等領域,對微觀結構的高分辨率觀測是推動研究與生產的核心需求。ZEM20Ultro 臺式場發射掃描電子顯微鏡(以下簡稱 ZEM20Ultro),以緊湊的臺式設計、穩定的場發射性能與多元的分析功能,為各行業提供了便捷且可靠的微觀觀測解決方案,打破傳統大型電鏡對空間與操作環境的嚴苛限制。
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