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BEUKER白光干涉儀:表面形貌測量新選擇 BEUKER白光干涉光學輪廓儀采用非接觸式測量技術,適用于微納米級表面形貌分析。其核心部件采用高質量光學鏡頭和穩定光源系統,確保測量數據的可靠性。
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Bruker白光干涉儀:表面測量解決方案 Bruker白光干涉儀(如ContourGT系列)是一款優良的三維光學表面輪廓儀,廣泛應用于科研、工業和質量控制領域。該設備采用白光干涉技術,通過測量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測量方式避免了對樣品的物理損傷,適用于多種材料和復雜表面的測量。
布魯克白光干涉光學輪廓儀微納檢測觸手可及。布魯克Contour X系列以“高適應性、易操作、低維護”為核心設計理念,幫助用戶將微納檢測從專業實驗室延伸至量產產線,為智能制造提供可靠的質量控制手段。
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