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技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES在科技日新月異的今天,白光干涉共聚焦顯微鏡作為光學(xué)顯微技術(shù)領(lǐng)域的一顆璀璨明珠,正以其特殊的成像原理和杰出的性能,推動著微觀世界探索的新風(fēng)潮。它不僅極大地提升了我們對材料表面形貌、薄膜厚度、粗糙度等微觀特性的認(rèn)知能力,還在半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等多個領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用潛力。白光干涉共聚焦顯微鏡的核心優(yōu)勢在于其結(jié)合了白光干涉與共聚焦掃描兩大技術(shù)。白光干涉技術(shù)利用光波的干涉原理,通過測量樣品表面反射光與參考光之間的光程差,精確重構(gòu)出樣品表面的三維形貌。這種技術(shù)具有非接觸、無損...
為什么微觀觀察是污染研究的“第一道門”?微橡膠顆粒的環(huán)境危害,與其微觀形貌、表面特性、粒徑分布密切相關(guān):粗糙的表面更容易吸附重金屬和有機(jī)污染物,細(xì)小的粒徑則能穿透生物屏障進(jìn)入細(xì)胞。但這些顆粒直徑多在1-500微米之間,遠(yuǎn)超光學(xué)顯微鏡的分辨極限,傳統(tǒng)檢測手段難以捕捉關(guān)鍵細(xì)節(jié)。澤攸科技ZEM系列臺式掃描電鏡的出現(xiàn),為研究者打開了微觀觀察的“快速通道”。無需復(fù)雜樣品制備,即可實現(xiàn)納米級分辨率成像,讓微橡膠顆粒的真實面貌清晰呈現(xiàn)——這正是青島科技大學(xué)等團(tuán)隊在TWP與LAP毒性對比研究...
在科研領(lǐng)域,顯微鏡就像科學(xué)家的“火眼金睛”,幫我們看清微觀世界的奧秘。而電子源,就是這雙眼睛的“光源”,其性能直接決定了觀測的精度和效率。最近,由北京大學(xué)等團(tuán)隊聯(lián)合研發(fā)的“光纖集成石墨烯超快電子源”登上了《NatureCommunications》,用創(chuàng)新設(shè)計打破了傳統(tǒng)電子源的諸多限制,而澤攸科技的ZEM系列臺式掃描電鏡,更是為這項研究提供了關(guān)鍵助力傳統(tǒng)電子源的“老大難”:效率低還“嬌氣”提到電子源,你可能會覺得陌生,但它卻是真空電子技術(shù)的核心。無論是高精度的時間分辨成像,還...
在納米材料研發(fā)、先進(jìn)儲能器件優(yōu)化及半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域,材料在服役環(huán)境中的動態(tài)行為研究至關(guān)重要。北京儀光憑借澤攸SEM/TEM原位分析系統(tǒng),突破了傳統(tǒng)靜態(tài)表征的局限,為科學(xué)家提供了實時觀測材料微觀結(jié)構(gòu)演變的“納米級顯微鏡”,成為推動材料科學(xué)突破的關(guān)鍵工具。1.原位SEM:動態(tài)形變與失效機(jī)制的“現(xiàn)場直播”ZEM系列臺式掃描電鏡搭載的原位拉伸/壓縮模塊,可在真空或可控氣氛環(huán)境中對金屬、陶瓷、高分子材料進(jìn)行納米級精度的力學(xué)加載。例如,在鋰離子電池隔膜研究中,通過原位SEM可實時觀察隔膜...
在現(xiàn)代電子設(shè)備中,有一群“隱形功臣”——微型BUMPS。它們是集成電路里的核心連接器,負(fù)責(zé)實現(xiàn)堆疊管芯或中介層之間的電氣和機(jī)械連接,手機(jī)、平板、電腦等設(shè)備能高效運(yùn)轉(zhuǎn),可離不開它們的功勞。01高精度測量,全面分析使用50倍干涉鏡頭,Sneox能對微型BUMPS進(jìn)行三維輪廓測量,在高分辨率下全面分析,驗證其高度、直徑和平整度,有效防止粘合失敗并優(yōu)化電氣性能。更厲害的是,僅需3秒就能分析所有測量數(shù)據(jù),大大提高了效率。02性能,優(yōu)勢盡顯速度驚人:采用新的智能算法以及新型相機(jī),數(shù)據(jù)采集...
在傳統(tǒng)測量領(lǐng)域,復(fù)雜工件的檢測往往面臨效率低、操作繁瑣、動態(tài)呈現(xiàn)不足等痛點。而SensoFIVE的出現(xiàn),正以其特別的五軸動態(tài)實時呈現(xiàn)技術(shù),為這一領(lǐng)域帶來不一樣性的變革。傳統(tǒng)測量常受困于操作復(fù)雜、動態(tài)呈現(xiàn)不足,而SensoFIVE的出現(xiàn)打破了這一局面。,時長02:54它與Sneox五軸系統(tǒng)無縫協(xié)作,三維查看器能實時展現(xiàn)五軸運(yùn)動細(xì)節(jié),旋轉(zhuǎn)角度、高度調(diào)整皆直觀可見,讓測量從抽象變具象。放置樣本到平面托盤,3D查看器可快速還原其形狀;借助旋轉(zhuǎn)支架測量圓柱體時,實時反饋讓操作更便捷,大...
一、Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡核心應(yīng)用場景半導(dǎo)體制造與微電子檢測晶圓表面形貌測量:精確檢測晶圓表面粗糙度(Ra關(guān)鍵尺寸(CD)表征:利用共聚焦模式捕捉光刻膠結(jié)構(gòu)的側(cè)壁粗糙度(Sa封裝缺陷檢測:檢測芯片與基板貼合平整度,發(fā)現(xiàn)空洞、翹曲等問題,保障電子封裝電氣性能。例如,在動力電池模組封裝中,通過30片/分鐘的高速檢測識別0.2μm涂層不均缺陷,年節(jié)省探針刮傷導(dǎo)致的報廢成本超280萬元。精密零部件與模具制造表面粗糙度評估:測量發(fā)動機(jī)葉片、精密齒輪等高精度零部件的表面形貌...
一、Slynx2:多技術(shù)融合的三維測量方案該系統(tǒng)在同一傳感器頭內(nèi)集成干涉、共聚焦和AI多焦面疊加技術(shù),搭配6個不同鏡頭的電動鼻輪與125×75毫米電動XY平臺,可實現(xiàn)多尺度測量。點擊觀看網(wǎng)絡(luò)研討會視頻↓,時長38:28以髖關(guān)節(jié)植入物髖臼杯外部測量為例,采用共聚焦技術(shù)與50倍長焦鏡頭,通過Z向掃描獲取三維圖像,再借助SensoVIEW軟件分析數(shù)據(jù),精準(zhǔn)評估表面狀況,為骨細(xì)胞整合優(yōu)化提供依據(jù)二、QvixPivot:支架缺陷檢測的專業(yè)之選作為針對支架與心臟瓣膜框架的檢測方案,其運(yùn)用...
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