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產品中心臺式電鏡&臺階儀&原位分析澤攸TEM原位方案(樣品桿)
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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
更新時間：2025-04-21
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瀏覽量：1106
PicoFemto透射電鏡原位高溫力學測量系統，同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學測量。
更新時間：2025-04-21產品型號：瀏覽量：1337
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統是原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等），從而對材料或者器件等樣品實現多重激勵下的原位表征。
更新時間：2025-04-21產品型號：瀏覽量：1012