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產品中心臺式電鏡&臺階儀&原位分析澤攸臺式掃描電鏡澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心用材與工藝
產品簡介
澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心用材與工藝臺式掃描電子顯微鏡的長期性能穩定，依賴于定期維護。ZEM20的維護重點集中在真空系統、探測器及環境控制
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澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心用材與工藝
澤攸?ZEM20 以緊湊結構、可靠真空系統、靈活的自動化功能以及完善的維護體系，能夠滿足材料科學、能源、生命科學等多領域的微觀表征需求。通過上述六篇技術文章，您可以快速了解其硬件構成、成像性能、材料工藝、操作要點、環境適配以及典型應用場景，為實驗室選型與日常使用提供系統參考。
真空腔：6061?T6 鋁合金經硬質陽極氧化（厚度 35?µm），顯微硬度 380?HV，放氣率 4.5?×?10???Pa·L·s?1·cm?2。
磁屏蔽筒：1J79 坡莫合金，壁厚 2?mm，μr?>?40?000，磁場抑制至 <?3?nT，像散畸變 <?0.2?%。
電纜：50?kV 級硅膠絕緣線，外覆不銹鋼網屏蔽，彎曲半徑 ≥?40?mm，耐 10? 次彎曲。
信號線：PTFE 隔離 Litz 線，40?kHz 掃描時交流電阻下降 18?%。
密封件：Viton A O?ring，放氣率 1?×?10???Pa·L·s?1·cm?2，壽命 ≥?2?年。
材料參數概覽
| 組件 | 材料 | 表面處理 | 放氣率 (Pa·L·s?1·cm?2) |
|---|---|---|---|
| 真空腔 | 6061?T6 鋁 | 硬質陽極氧化 | 4.5?×?10?? |
| 鏡筒 | SUS304 不銹鋼 | 電拋光 | 2?×?10?? |
| 屏蔽筒 | 1J79 坡莫合金 | 鈍化 | 1?×?10?? |
| 密封圈 | Viton A | — | 1?×?10?? |
澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心用材與工藝