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臺式電鏡&臺階儀&原位分析
澤攸臺式掃描電鏡
澤攸ZEM20掃描顯微鏡:緊湊結構與高效真空
澤攸ZEM20掃描顯微鏡:緊湊結構與高效真空臺式掃描電子顯微鏡的長期性能穩定,依賴于定期維護。ZEM20的維護重點集中在真空系統、探測器及環境控制
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澤攸ZEM20掃描顯微鏡:緊湊結構與高效真空
ZEM20 采用 6061?T6 鋁合金真空腔,表面經 35?µm 硬質陽極氧化處理,放氣率僅 4.5?×?10???Pa·L·s?1·cm?2,能夠在 3?×?10???Pa 真空下穩定工作。抽氣系統由 30?L/min 隔膜泵 + 70?L/s 渦輪分子泵組成,抽真空循環時間約 3?min。
電子槍:CeB? 單晶燈絲,壽命約 1500?h,燈絲壽命監控實時顯示。
磁透鏡:三級磁透鏡(聚光、物鏡、掃描),采用 1J79 坡莫合金磁屏蔽筒(μr?>?40?000),像散校正通過 8?級掃描線圈實現。
探測器:二次電子(SE)與背散射電子(BSE)雙通道,可同步顯示并拍攝混合圖像。
樣品臺:5?軸中心馬達驅動,X/Y 行程 ≥?110?mm,Z 行程 1.5–40?mm,旋轉 360°,傾斜 -5°~70°,配備自動對中、自動對焦、自動亮度對比度(ABCC)功能。
核心參數
項目 | 規格 |
---|---|
真空腔材質 | 6061?T6 鋁合金(硬質陽極氧化) |
極限真空 | 3?×?10???Pa |
抽氣系統 | 隔膜泵 30?L/min + 渦輪泵 70?L/s |
電子槍 | CeB? 單晶燈絲 |
加速電壓 | 0.5?–?30?kV(0.01?V 步進) |
工作距離 | 0.1?–?50?mm |
探測器 | SE?+?BSE |
樣品臺行程 | X/Y?≥?110?mm,Z?1.5?40?mm |
澤攸ZEM20掃描顯微鏡:緊湊結構與高效真空