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臺式電鏡&臺階儀&原位分析
澤攸
探微知著:澤攸ZEM20Pro臺式電鏡?
探微知著:澤攸ZEM20Pro臺式電鏡?在材料科學領域,微觀結構的精準表征與動態行為研究是推動技術突破的核心驅動力。安徽澤攸科技推出的ZEM20Pro臺式掃描電子顯微鏡,憑借其高分辨率成像、模塊化原位實驗功能及智能化操作設計,成為科研與工業領域的“顯微伙伴"。
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探微知著:澤攸ZEM20Pro臺式電鏡
在材料科學、生命科學和工業檢測等領域,觀察微觀世界的高清細節是研究與質控的關鍵。澤攸ZEM20Pro臺式高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),為實驗室帶來了一種結構緊湊、操作便捷的微觀成像解決方案。
澤攸ZEM20Pro雖為臺式設計,但其核心性能承襲了大型設備的技術精髓。產品采用高亮度鎢燈絲電子槍,確保了信號的穩定性和圖像的信噪比。光學鏡筒與真空系統經過精心設計,減少了像差,有助于獲得更清晰的圖像。其樣品室設計兼顧了實用性與便捷性,可容納最大直徑達100mm的塊狀樣品,并配備了可移動的五軸優中心樣品臺,支持X、Y、Z、傾斜、旋轉多維調節,方便用戶快速定位感興趣的區域。
設備集成了高靈敏度背散射電子(BSE)探測器,能夠有效獲取成分襯度信息,輔助進行材料初步分析。在軟件方面,ZEM20Pro配備了功能豐富的控制平臺,界面直觀,不僅支持自動圖像拼接、圖像測量等常用功能,還簡化了抽真空、加高壓等操作流程,降低了新用戶的學習門檻,讓科研人員能更專注于樣本本身而非儀器操作。
其采用的材料注重耐用性與穩定性,主體結構堅固,關鍵部件選材考究,旨在保證設備在長期使用中的可靠性。ZEM20Pro適用于高校教學、企業研發、質量檢測等多種場景,無論是金屬、陶瓷、半導體,還是生物、高分子材料,都能提供有價值的微觀形貌信息。
型號: ZEM20Pro
關鍵參數:
分辨率: 30 nm (加速電壓30kV)
放大倍數: 10x - 100,000x
加速電壓: 0-30 kV (可調)
樣品臺: 五軸優中心手動樣品臺
樣品尺寸: Max. ? 100 mm
真空系統: 分子泵系列
使用前,需確保設備放置在穩固、無強磁干擾的實驗臺上,并連接穩定的電源。操作時,只需將樣品安置于樣品座,放入樣品室,啟動軟件預設的抽真空程序,待真空就緒后即可選擇參數開始觀察。日常維護主要包括保持樣品室清潔和定期檢查真空泵油。