澤攸 臺階儀以穩定的測量表現，成為材料表面分析的實用工具。其核心測量系統采用高精度光柵尺，配合精密驅動機構，為位移測量提供可靠基礎。澤攸 臺階儀：微觀形貌的忠實記錄者
該型號測量范圍為 0 - 100μm，垂直分辨率達 0.1nm，能捕捉微小的臺階高度差異。掃描長度可在 10μm - 10mm 之間調節，滿足不同尺寸樣品的測量需求。傳感器采用金剛石觸針，針尖半徑 5μm，測力范圍 2 - 20mg，減少對軟質樣品表面的損傷。
設備機身選用鑄鐵材質，經時效處理消除內應力，有效降低外界振動對測量的影響。操作面板設計簡潔，通過旋鈕與按鍵可快速設置測量參數，配套軟件支持數據的實時顯示與后期分析，能生成臺階高度、粗糙度等參數報告。
使用時，將樣品固定在工作臺上，調整觸針位置使其輕觸樣品表面，設置掃描速度（0.1 - 1mm/s）和掃描長度后啟動測量。適用于薄膜厚度檢測、涂層臺階分析等場景，如半導體晶圓的鍍膜厚度測量，為生產質量控制提供數據支持。澤攸 臺階儀：微觀形貌的忠實記錄者
澤攸 臺階儀在設計上注重擴大測量范圍的同時保持測量精度，其驅動系統采用伺服電機，運行平穩，掃描過程中觸針測力波動小。
測量范圍擴展至 0 - 200μm，垂直分辨率 0.05nm，水平分辨率 10nm，能應對更深的臺階與更細微的表面特征。掃描長度最大可達 50mm，適合較大尺寸樣品的整體測量，如 PCB 板的線路臺階檢測。
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