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澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) ,是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng),原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境(包括力、熱、光、電等)。
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06產(chǎn)品特點,真空腔體:真空度優(yōu)于610-4 Pa。降溫后優(yōu)于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口(KF40可接入氣體或者額外的電纜)。
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06,高可靠性探針臺系統(tǒng),主要應(yīng)用在半導(dǎo)體/微電子, 電子,機電,物理,化學(xué),材料,光電,納米,微機電/MEMs,生物芯片等科學(xué)研究領(lǐng)域,以及IC設(shè)計/制造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產(chǎn)制造領(lǐng)域。
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