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澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節光闌。

ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節光闌。

ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

澤攸掃描電鏡:納米材料研發桌面觀測平臺 澤攸ZEM20Ultro臺式場發射掃描電子顯微鏡是專為科研與工業場景設計的緊湊型高分辨率成像設備，其核心參數覆蓋廣泛的應用需求。

澤攸臺式掃描電鏡:納米材料表征的桌面利器 澤攸ZEM20Ultro臺式場發射掃描電子顯微鏡是專為科研與工業場景設計的緊湊型高分辨率成像設備，其核心參數覆蓋廣泛的應用需求。